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樹木診断

DENDRO 2003

超精密年輪計測システム

DENDRO2003は超高精度で切り出し樹木サンプルの年輪計測が行えるシステムです。顕微鏡画像が大型スクリーンに表示され、細かい解析を連動する画像解析システムにて行えます。

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主な特長

透過光・入射光解析：透過光によるX線フィルムの解析、入射光によるサンプル表面の解析に対応。
高精度ポジショニング：3軸ジョイスティックで300×170mmのX・Y範囲をテーブル移動し、高速で正確かつ反復可能なポジショニングを実現。
大型回転スクリーン投影：測定対象を大型回転スクリーン上にちらつきなく投影。10倍・25倍・50倍の鮮やかなディスプレイ（リクエストに応じて他の倍率も利用可能）。
自動・手動のデータ取得：記録した密度値をデジタル化しグラフィック形式へ変換、データ処理・管理・比較が容易。
ユーザーフレンドリーな操作：論理的で使いやすいコントロールパネル設計により、簡単で効率的な処理が可能。

透過光によるX線フィルムの解析、入射光によるサンプル表面の解析に対応します。ポジショニングテーブル上のオブジェクトを高速で正確かつ反復可能にポジショニングでき、3軸ジョイスティックは300×170mmのXおよびY範囲でテーブルを移動します。

大型回転スクリーン上に測定対象をちらつきなく投影します。10倍、25倍、または50倍の鮮やかなディスプレイを備え、リクエストに応じて他の倍率も利用できます。高周波蛍光管のバックライトにより、フィルムの表示領域の向きが保証されます。

自動および手動のデータ取得に対応し、論理的でユーザーフレンドリーなコントロールパネルの設計により、簡単で効率的な処理が可能になります。記録された密度値のデジタル化とグラフィック形式への変換により、データ処理、データ管理、およびデータ比較が容易になります。

電気オブジェクトのフォーカシングとブリリアンスコントロール、傾斜可能な軸を備えた可変サイズのフォトセンサー、データ取得中のテーブルの前後移動、密度偏差が小さい構造を記録するための手動操作のスライド式ポテンショメータを備えます。

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