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年輪幅精密測定

DENDRO 2003 超精密年輪計測システム

特長および仕様

DENDRO2003は超高精度で切り出し樹木サンプルの年輪計測が行えるシステムです。顕微鏡画像が大型スクリーンに表示され細かい解析が連動する画像解析システムにて行えます。

アプリケーション

アプリケーションガイド

アクセサリー & オプション

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